2011-05-17
Svepelektronmikroskop (SEM) för större skärpedjup
Under våren har vi beslutat att investera i ett svepelektronmikroskop med kemisk analysator (SEM/EDS). Ett SEM kan användas till avancerade materialundersökningar, av både konstruktionsmaterial, gjutgods och ytbeläggningar. Tekniken är mycket användbar vid felanalyser och skadeutredningar. Den stora skillnaden mot konventionell mikroskopering är att man kan arbeta vid högre förstoringar och man får ett mycket större skärpedjup. Det gör att tekniken är mycket lämplig för analyser av brottytor och mätningar av defekter och skikttjocklekar i väldigt liten skala. Dessutom kan vi även erbjuda en grundläggande kemisk analys av materialet.
- För Proton Technology betyder det att vi förbättrar våra möjligheter att agera som en stark och oberoende partner för våra kunder och vi kan nu tillhandahålla mer kompletta lösningar, berättar Göran Holmbom, VD, Proton Technology.