Skikthårdhetsmätning, HV0,01-HV2
Hårdheten på ytan av detaljerna mäts med mikro-Vickers (HV0,01-HV0,1) och Vickers (HV0,2-HV2) enligt krav i SS-EN ISO 6507-1. Hårdhetsintrycken utvärderas normalt vid en förstoringsgrad kring 2.500x förstoring. Mätning kan även utföras på tvärsnitt, men följer då inte norm-krav.
Bestämning av passiveringsskikt
Passiveringsskikt på aluminium kontrolleras med energidispersiv röntgenanalys (EDAX).
Skikttjockleksmätning
Skikttjocklekar, i intervallet 1-120 µm, uppmäts på tvärsnitt av detaljer i optiskt mikroskop, vid förstoringsgrad 1.000 -5.000x förstoring. Skikttjocklekar, under 1 µm, uppmäts på tvärsnitt av detaljer i svepelektronmikroskop (SEM), vid förstoringsgrad 5.000 -20.000x förstoring.
Ytjämnhet, finish och struktur hos skikt
Ytans utseende dokumenteras med svepelektronmikroskopi, vid förstoringsgrad 250x, 1.000x och 2.500x förstoring.
Skiktsammansättning
Kemiska sammansättningen hos ytskikt analyseras i svepelektronmikroskop med energidispersiv röntgenanalys (EDAX). Samtliga grundämnen, med undantag för de tre lättaste grundämnena (väte, helium och litium) kan analyseras. Analysdjupet är 0,1-5 µm beroende på vilket grundmaterial/ytskikt och vilken elektronenergi som används. På en yta eller på ett ytskikt kan grundämnenas fördelning visas (X-ray mapping).